選擇長度適宜的發(fā)射光纜取決于多個因素，包括：

??要測量的光纖類型

??要測量的光纖的最大長度，這會決定在OTDR內(nèi)使用的最大脈寬

? ODF上的連接器類型

光纖類型

發(fā)射光纖的類型和幾何特征應與被測光纖保持一致。對于單模光纖來說，如果被測光纖為G.655型，而使用的發(fā)射光纖為G.652型，可能會導致額外損耗。然而，如果能夠記錄并找出原因，則可以接受這些損耗。這對多模光纖尤為重要，因為發(fā)射條件必須穩(wěn)定才能精準測量損耗，當兩條多模光纖纖芯大小不同（分別為50 μm和62.5 μm）時也是如此。

此外，應對發(fā)射光纖的端面進行很好的研磨。不應有任何內(nèi)部熔接，否則會直接增加連接器的總損耗。

脈寬

因此，如果您計劃使用的脈寬為5000 ns，發(fā)射光纖的長度應為600 m (5000除以10，然后將結果加上20%）。所以，1 km長的發(fā)射光纜在各種情況下都足以滿足需求。然而，如果您要使用10 μs脈寬，這段發(fā)射光纜會過短，低于要求的1.2 km。

在PON/FTTx MDU測試中，會使用不超過500 ns的脈寬。因此，150m-300 m長的發(fā)射光纜可滿足需求。

連接器類型

使用發(fā)射光纜的主要目的是將ODF連接器隔離開來，以測量其損耗和反射系數(shù)。因此，根據(jù)所選發(fā)射光纖，正確端接ODF至關重要。如果網(wǎng)絡是SC/UPC型，而發(fā)射光纖是FC/UPC，使用“3 m跳線”連接SC/UPC會導致在ODF測量兩對連接器，而這是不可取的。

因此，可能需要準備多個發(fā)射光纖，以便測試光纖網(wǎng)絡。因為大多數(shù)OTDR的的發(fā)射端口比較固定（如SC/APC輸出端口），所以可使用從SC/APC到xx/xPC的各種轉接跳線。脈沖抑制器/發(fā)射引纖的另一個重要用途是盡可能減少OTDR連接器的使用次數(shù)，最終降低損壞OTDR連接器的風險并延長連接器使用壽命。

在不使用發(fā)射光纜測試光纖鏈路時，結果只會顯示第一個（對）連接器的反射系數(shù)。這會導致出現(xiàn)問題，因為反射系數(shù)與兩對（OTDR和ODF）有關，而結果卻沒有將與ODF連接有關的損耗計算在內(nèi)。

圖2：使用300 m發(fā)射光纜進行測試，相應調整起始零點

在圖2中，使用300 m發(fā)射光纜，并將起始零點調整300 m，以顯示ODF連接的損耗和反射系數(shù)。

圖3：使用300 m發(fā)射光纜、500 m接收光纜進行測試，并相應調整兩者的起始零點

在圖3中，使用發(fā)射和接收光纜以顯示ODF連接的損耗和反射系數(shù)。
圖4：使用過大脈寬示例

在上述例子中，使用的發(fā)射光纜長300 m，且脈寬過大，結果是脈沖超過發(fā)射光纜。因此，也就失去了優(yōu)勢，而網(wǎng)絡也比應有的值長出300 m。在超過90 km時，1550 nm/1625 nm比較常用，以允許檢測宏彎。如果不要求檢測宏彎，目前的做法是使用1550 nm。

結束語

除了使OTDR能夠在測試脈沖射入光纖后恢復過來之外，使用發(fā)射光纖在確定被測光纜損耗和反射系數(shù)方面也非常重要。然而，要獲得理想結果，必須選擇合適類型和長度的光纖，以及脈寬和隔離ODF連接器所需的光纜端接方法。如果將這些因素都考慮在內(nèi)，并在需要檢測宏彎時考慮動態(tài)范圍，可更精準地測量插入損耗和反射系數(shù)，并優(yōu)化OTDR的長期性能。